CN102016996A - 用于改进伺服数据操作的系统和方法 - Google Patents

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Abstract

本发明的多个实施例提供了用于有效地确定端头相对于存储介质的定位误差的系统、方法以及介质格式。在一种情况下,公开了一种系统,该系统包括具有一系列数据的存储介质。所述系列数据包括第一限定标记符、与该第一限定标记符相距一定距离定位的第二限定标记符、以及定位位置数据。所述系统还包括:第一检测器电路,该第一检测器电路可操作用于检测所述第一限定标记符并且确定所述第一限定标记符的位置;以及第二检测器电路,该第二检测器电路可操作用于检测所述第二限定标记符并且确定所述第二限定标记符的位置。所述系统还包括误差计算电路和内插电路。所述误差计算电路可操作用于至少部分地基于所述第一限定标记符的位置和所述第二限定标记符的位置来计算内插偏移量。所述内插电路可操作用于对所述定位位置数据进行内插,并且提供内插定位位置数据。

Description

用于改进伺服数据操作的系统和方法
技术领域
本发明涉及存储介质,并且更具体地说,涉及用于相对于存储介质对准读/写端头组件的系统和方法。
背景技术
典型存储介质包括许多可以存储数据的存储位置。通过在存储介质上的选定位置处定位读/写端头组件并随后使调制电流经过端头组件以使在该存储介质中感应出对应磁通量图案(pattern),将数据写到该存储介质的设计用于用户数据的区域内。为了检索所存储数据,将该端头组件定位在包含希望信息的轨道上并且前进直到处于希望数据上。先前存储的磁通量图案用于在该端头组件中感应出电流,接着可以将所感应的电流转换成表示原始记录数据的电信号。
存储介质上的存储位置典型地布置为沿同心圆(称为轨道)的一系列图案。图1示出了具有表示为虚线的两个示例性轨道150、155的存储介质100。这些轨道被写入在楔形部(wedge)160、165内的伺服数据隔离。该伺服数据包括用于在存储介质100的希望存储位置上控制和同步读/写端头组件的数据和支持位图案。具体来说,该伺服数据传统上包括前同步码图案,前同步码图案后面是单一扇区地址标记(SAM)。该SAM后面是Gray码,而该Gray码后面是脉冲串信息(burst information)。应注意到,虽然示出了两个轨道和两个楔形部,但在给定的存储介质中典型地包括成几百个轨道和楔形部。而且,应注意到,根据为确定定位误差而选定的方法,一扇区可以具有两个或更多个脉冲串字段。
常规伺服数据试图利用前同步码字段来调节定时和增益循环,以同步针对写入至存储介质的数据的采样。在定时循环和增益循环稳定之后,处理SAM、Gray码以及脉冲串信息,以确定存储介质上的位置并且生成定位误差信号。根据前同步码准确地确定定时和增益是对于适当地处理伺服数据而言是关键的。例如,在定时不准确的情况下,任何定位误差信号都将对应地不准确。这种不准确可能导致因相对于存储介质读/写端头组件的不适当定位而造成的误码率增加。为了增加定时和增益循环的准确性,可以选择较长的前同步码。然而,增加前同步码长度造成了存储介质上存储密度的对应减少。
因此,至少出于前述理由,本领域需要用于增加定位误差确定的准确性的改进系统和方法。
发明内容
本发明涉及存储介质,并且更具体地说,涉及用于相对于存储介质对准读/写端头组件的系统和方法。
本发明的多个实施例提供了用于有效地确定端头相对于存储介质的定位误差的系统。这种系统包括具有一系列数据的存储介质。所述系列数据包括第一限定标记符、与该第一限定标记符相距一定距离定位的第二限定标记符、以及定位位置数据。所述系统还包括:第一检测器电路,该第一检测器电路可操作用于检测所述第一限定标记符并且确定所述第一限定标记符的位置;和第二检测器电路,该第二检测器电路可操作用于检测所述第二限定标记符并且确定所述第二限定标记符的位置。所述系统还包括误差计算电路和内插电路。所述误差计算电路可操作用于至少部分地基于所述第一限定标记符的位置和所述第二限定标记符的位置来计算内插偏移量。所述内插电路可操作用于对所述定位位置数据进行内插,并且提供内插定位位置数据。在某些情况下,所述系统还包括脉冲串解调电路,该脉冲串解调电路至少部分地基于所述内插定位位置数据来生成定位误差信号。在前述实施例的一个或多个实例中,所述第一检测器电路和所述第二检测器电路相同。在前述实施例的其它实例中,所述第一检测器电路和所述第二检测器电路具有大量的公用电路。例如,在一种情况下,所述位置确定电路在两个检测器之间公用,但每一个检测器具有保持相应的希望SAM图案的不同寄存器。
在前述实施例的某些实例中,所述系列数据是包括前同步码图案的扇区数据。所述第一限定标记符是第一扇区地址标记,而所述第二限定标记符是第二扇区地址标记。在这种实例中,所述系统还包括信号接收电路,该信号接收电路具有模拟数字转换器,该模拟数字转换器利用以某一频率和某一相位操作的采样时钟对模拟输入进行采样,以生成一系列样本;以及前同步码检测器和时钟恢复电路。所述前同步码检测器和时钟恢复电路可操作用于检测所述扇区数据内的所述前同步码图案,并且基于所述前同步码图案来调节所述频率和所述相位中的至少一个,以生成经调节的采样时钟。所述内插偏移量可操作用于至少部分地补偿所述经调节的采样时钟中的相位误差。在某些情况下,所述第一限定标记符的位置包括与基准位置相距的小数形式的距离(fractional distance)和整数形式的距离(integer distance)的组合。
在前述实施例的多个实例中,所述定位位置数据至少包括第一脉冲串图案和第二脉冲串图案。在这种情况下,所述第一扇区地址标记位于所述前同步码图案之后并位于所述第一脉冲串图案之前,而所述第二扇区地址标记位于所述第一脉冲串图案之后并位于所述第二脉冲串图案之前。在某些情况下,所述扇区数据还包括Gray码,所述Gray码位于所述第一扇区地址标记之后并位于所述第二扇区地址标记之前。
本发明的其它实施例提供了用于有效确定定位误差的方法。这种方法包括提供一种具有一系列数据的存储介质。所述系列数据包括第一限定标记符、与所述第一限定标记符相距一定距离定位的第二限定标记符、以及定位位置数据。接收所述系列数据,并且检测所述第一限定标记符和所述第二限定标记符。识别所述第一限定标记符和所述第二限定标记符两者的位置,并且至少部分地基于第一位置和第二位置来计算内插偏移量。利用所述内插偏移量对所述定位位置数据进行内插,以生成内插定位位置数据,并且利用所述内插定位位置数据来确定定位误差。
在前述实施例的某些实例中,所述系列数据是包括前同步码图案的扇区数据。所述第一限定标记符是第一扇区地址标记而所述第二限定标记符是第二扇区地址标记。在这种实例中,接收所述系列数据包括:接收包括所述扇区数据的模拟输入;并且利用以某一频率和某一相位操作的采样时钟对所述模拟输入进行采样,以至少生成所述扇区数据的一部分。在所述扇区数据内检测所述前同步码图案。基于所述前同步码图案,调节所述频率和所述相位中的一个或二者,以生成经调节的采样时钟。接着,利用所述经调节的采样时钟对所述模拟输入进行采样。在某些情况下,所述内插偏移量可操作用于至少部分地补偿所述经调节的采样时钟中的相位误差。
在前述实施例的某些实例中,所述第一扇区地址标记和所述第二扇区地址标记相同。在其它实例中,所述第一扇区地址标记不同于所述第二扇区地址标记。在前述实施例多个实例中,所述定位位置数据至少包括第一脉冲串图案和第二脉冲串图案。在这种实例中,所述第一扇区地址标记位于所述前同步码图案之后并位于所述第一脉冲串图案之前,而所述第二扇区地址标记位于所述第一脉冲串图案之后并位于所述第二脉冲串图案之前。在某些情况下,所述扇区数据包括Gray码,所述Gray码位于所述第一扇区地址标记之后并位于所述第二扇区地址标记之前。在前述实施例的多个实例中,所述定位位置数据至少包括第一脉冲串图案、第二脉冲串图案以及第三脉冲串图案。在这种实例中,所述第一扇区地址标记位于所述前同步码图案之后并位于所述第一脉冲串图案之前,而所述第二扇区地址标记位于所述第二脉冲串图案之后并位于所述第三脉冲串图案之前。
在某些情况下,所述存储介质还包括具有相同的前同步码图案、第一扇区地址标记和第二扇区地址标记的另一扇区数据。在前述实施例的一个或多个实例中,识别所述第一扇区地址标记的第一位置包括执行第一小数形式位置计算,而识别所述第二扇区地址标记的第二位置包括执行第二小数形式位置计算。在前述实施例的某些实例中,计算所述内插偏移量包括从所述第二位置减去所述第一位置并且将该结果除以所述距离。
本发明的其它实施例提供了一种存储介质,所述存储介质包括:第一扇区数据集,所述第一扇区数据集具有前同步码图案、第一扇区地址标记、第二扇区地址标记、第一脉冲串图案、和第二脉冲串图案;以及第二扇区数据集,所述第二扇区数据集具有所述前同步码图案、所述第一扇区地址标记、所述第二扇区地址标记、所述第一脉冲串图案,和所述第二脉冲串图案。所述第一脉冲串图案位于所述第二脉冲串图案之前,所述第一扇区地址标记位于所述前同步码图案之后,并且所述第二扇区地址标记位于所述第一脉冲串图案之后。
本发明内容部分仅提供了对本发明的一些实施例的一般性概述。根据下面的详细描述、所附权利要求书以及附图,本发明的许多其它目的、特征、优点以及其它实施例将变得完全清楚。
附图说明
通过参考在本说明书的其余部分中描述的附图,可以实现对本发明的多种实施例的进一步理解。在附图中,相同的附图标记在多个图中自始至终用来指示类似部件。在某些实例中,由小写字母构成的下标与附图标记相关联,以表示多个类似部件中的一个。当对附图标记进行参考而不指明已有下标时,意图指示所有这样的多个类似部件。
图1示出了包括用户数据区域和插入伺服数据楔形部的示例性现有存储介质;
图2示出了根据本发明的多个实施例的改进伺服数据图案;
图3是根据本发明的一些实施例的用于处理改进伺服数据图案的系统的框图;
图4是例示根据本发明的不同实施例的用于确定可以使用的SAM位置的处理的定时图;
图5是例示根据本发明的一些实施例的对可以使用的脉冲串信息进行内插的处理的定时图;以及
图6是根据本发明的一个或多个实施例的用于处理改进伺服数据图案的方法的流程图。
具体实施方式
本发明涉及存储介质,并且更具体地说,涉及用于相对于存储介质对准读/写端头组件的系统和方法。
转至图2,示出了根据本发明的多个实施例的改进伺服数据图案200。改进伺服数据图案200包括:前同步码204、第一伺服地址标记(SAM1)206、Gray码208、第一脉冲串信息(Burst1)210、第二伺服地址标记(SAM2)212、以及第二脉冲串信息(Burst2)214。改进伺服数据图案200夹在两个用户数据区域202、216之间。Gray码208是与轨道位置有关的编码信息,并且可以是本领域已知的任何Gray码,并且Burst1210和Burst2214可以是本领域已知的任何脉冲串信息。应注意,根据所实施的特定脉冲串解调方案可以使用多于两个字段的脉冲串信息。例如,在本发明的一些实施例中,可以使用四个字段的脉冲串信息。SAM1206被用于区别存储介质的伺服扇区与用户数据区域。SAM2212结合SAM1206使用,以向处理前同步码204之后剩余的任何相位误差提供修正。SAM1206和SAM2212皆可以包括本领域已知的任何SAM图案。在某些情况下,SAM2212和SAM1206具有相同图案,而在其它情况下,SAM2212的图案与SAM1206的图案不同。
SAM1206和SAM2212跨改进伺服数据图案200分布并且被用于向Burst1210和Burst2214的内插提供输入。在某些情况下,在从处理Burst1210和Burst2214导出的定位误差信号上不引起任何附加等待时间的情况下,将SAM1206和SAM2212设置得尽可能远。因而,例如,在改进伺服数据图案200被扩展成包括四个脉冲串字段的情况下,可以将SAM1206设置在第一脉冲串字段之前的图案中的某处,并可以将SAM2设置在最后的脉冲串字段之前的图案中。与现有前同步码图案类似的是,前同步码204是被数据处理系统用于调节定时和增益循环的周期性图案。然而,由于将SAM1206和SAM2212包括在改进伺服数据图案200中而产生的相位纠错能力,前同步码204可以比传统伺服数据图案中的对应前同步码短。应注意,在某些情况下,在Gray码208与Burst1210、Burst1210与SAM2212、SAM2212与Burst2214、以及Burst2214与用户数据216中的一个或多个之间设置了限定位周期的分隔符(spacer)。
在某些情况下,与传统前同步码相比,前同步码204的长度的减少大于SAM2212所需位周期数。在这种情况下,改进伺服数据图案200在不增加与伺服数据扇区相关联的位周期数的情况下增加了通过处理脉冲串信息所生成的定位误差的精度,或者提供相同程度的、通过处理脉冲串信息所生成的定位误差的精度,同时减少与伺服数据扇区相关联的位周期数。基于在此提供的公开,本领域普通技术人员将认识到可以通过实施本发明的一个或多个实施例而获得的多种其它优点。
在使用中,数据处理系统接收与前同步码204相对应的一系列样本。这些样本用于提取定时信息和增益信息,所述定时信息和增益信息用于调节被用来处理改进伺服数据图案200的更后部分的采样间隔的相位和/或频率。如上所述,前同步码204可能相对短,导致采用间隔中的某些误差。后续系列样本包括被处理的SAM1206和存储SAM1206的位置。接着,利用常规手段处理Gray码208以获取轨道信息。这后面是接收和缓冲与Burst1210相关联的样本。后续系列样本包括被处理的SAM2214和存储SAM2214的位置。将SAM1206和SAM2214的位置以数学方式组合,并且将所得内插偏移量用于内插与已经被储存至缓冲器的Burst1210相对应的样本,并且用于处理与Burst2214相对应的样本。接着,可以将内插脉冲串样本用于常规脉冲串解调方案,以生成定位误差信号。可以将所述定位误差信号用于调节读/写端头组件相对于存储介质的位置。内插处理生成Burst1210和Burst2214的一个或多个更为准确的表述,其又实现展示更高程度的精度的定位误差信号。所述精度允许更好地定位读/写端头组件以及相应地增加信噪比并减小误码率。
转至图3,示出了根据本发明的一些实施例的、为处理改进伺服数据图案而特制的数据处理系统300的框图。数据处理系统300包括读/写端头组件310,其感测存储在存储介质(未示出)上的磁场305,并且将感测信息转换成电信号312。将电信号312提供给如本领域所公知的模拟处理模块313,并且将模拟处理模块313的输出提供给前置放大器315,所述前置放大器315放大该信号并且提供对应的放大信号317。模拟数字转换器320接收放大信号317并将其转换成一系列数字样本322,每一个数字样本对应于由采样时钟324所控制的时刻。将数字样本322提供给前同步码检测器330,其用于检测预先限定的周期性前同步码图案(例如,前同步码204)。一旦检测到,就由时钟恢复电路335使用所定义的周期性前同步码图案,以利用本领域已知的恢复处理来调节采样时钟324的相位/频率。
一旦发现前同步码,伺服数据缓冲器325就开始存储从模拟数字转换器320接收到的该系列数字样本322。此外,将数字样本322提供给被设计成检测第一SAM图案(例如,SAM1206)的SAM检测电路340,并且提供给被设计成检测第二SAM图案(例如,SAM2212)的SAM检测电路345。在某些情况下,SAM2212和SAM1206具有相同图案。在这种情况下,SAM检测电路340可以与SAM检测电路345相同。在其它情况下,SAM2212的图案与SAM1206的图案不同。在这种情况下,SAM检测电路340可以类似于SAM检测电路345,但两个电路足够不同以允许检测与SAM1206和SAM2212相对应的独特图案。在本发明的特定实施例中,SAM检测电路340和SAM检测电路345被实施为能够指示识别SAM1206和SAM2212两者的单一电路。在SAM1不同于SAM2的情况下,可以在公用SAM检测电路中包括可选比较寄存器,以允许在一个间隔期间检测SAM1206并且允许在后续间隔期间检测SAM2212。
一旦检测到第一SAM图案(例如,SAM1206),就将SAM1位置信号342提供给指示与第一SAM图案的检测相对应的时间的误差计算电路350。随后,检测第二SAM图案(例如,SAM2212),并将SAM2位置信号347提供给误差计算电路350。类似地,SAM2位置信号347指示与第二SAM图案的检测相对应的时间。在某些情况下,SAM检测电路340和SAM检测电路345皆提供作为与基准点相距的整数数量的时段的相应SAM位置信号。在其它情况下,在SAM检测电路340和SAM检测电路345皆提供前述与基准点相距的整数数量的时段加上小数形式的偏移量的情况下精度增加。下面,针对图4,对用于确定整数形式的SAM位置和小数形式的SAM位置的一个示例性电路的操作进行讨论。基于在此提供的公开,本领域普通技术人员将认识到,根据本发明的不同实施例可以被用于确定SAM1位置342和SAM2位置347的多种其它方法。
图4是例示与本发明的不同实施例有关的、用于确定可以使用的SAM位置的处理的定时图400。具体来说,在接收与SAM相对应的图案之前的时段410中,由包括在SAM检测电路345中的SAM检测器所提供的信号电平相对较低。一旦在SAM图案时段420期间检测到SAM,由SAM检测器所提供的信号电平增加。在SAM图案时段420期间,对来自SAM检测器的信号采样一次或多次(例如,在时间t(x-1)、t(x)以及t(x+1))。将SAM的整数形式位置定义成其中来自SAM检测器的信号展示其最高值的位置(即,与基准点相距的时段)。在仅使用不太准确的整数值的情况下,SAM位置简单为与来自SAM检测器的信号的最高样本值相对应的时间(例如,t(x))。
在某些情况下,可以确定更精确的小数形式的SAM位置值。这种方法可以包括根据下列公式,基于最高样本值和该最高样本值任一侧的两个样本值(例如,与t(x)相对应的样本(x)、与t(x-1)相对应的样本(x-1)、以及与t(x+1)相对应的样本(x+1))来计算来自SAM检测器的信号的最大值的位置:
Figure BPA00001253851900091
接着,根据下面的公式,通过将小数形式的SAM位置值和与最高样本值相对应的位置(例如,t(x))相加来计算SAM位置,以生成实际SAM位置:
SAM位置=t(x)+φ
通过误差计算电路350组合SAM1位置342和SAM2位置347来生成内插偏移量352。具体来说,如在下面公式中所阐述的,计算SAM1位置347与SAM2位置342之差,并且将其除以SAM1位置342与SAM2位置347之间的已知距离(即,SAM1206与SAM2212之间的已知距离):
该已知距离在将伺服数据写入至存储介质的时候限定,并且是SAM1206与SAM2212之间的希望数量的位周期。在某些情况下,该已知距离尽可能多地增加(导致SAM2位置347与SAM1342之差的对应增加),以增加上述公式的精度。增加已知距离通过将SAM2212远离SAM1206上游地移动来完成。在某些情况下,SAM2恰好设置在伺服数据中的最终脉冲串字段(例如,Burst2214)之前。因而,例如,在采用两个脉冲串字段的情况下,将SAM2212移动至伺服数据图案中的、第二脉冲串字段之前的位置。作为另一示例,在采用四个脉冲串字段的情况下,将SAM2212移动至伺服数据图案中的、第四脉冲串字段之前的位置。这种设置允许在不需要在用户数据216开始之前进一步延迟处理最终脉冲串字段(例如,Burst2214)的情况下,最大化SAM1与SAM2之间的距离。基于在此提供的公开,本领域普通技术人员将认识到可以用于最大化处理性能的SAM1206和SAM2212的其它设置。例如,在某些情况下,利用SAM2212之后的适当分隔符,SAM2212在最后的脉冲串字段(例如,Burst2214)之后移动,以允许在用户数据216开始之前有足够时间用于内插和处理来自最终脉冲串字段的脉冲串信息。
接着,利用内插器电路355来内插与伺服数据图案中所包括的两个或更多个脉冲串字段(例如,Burst1210和Burst2214)相对应的数据。具体来说,该脉冲串信息存在与SAM1位置342相距的已知数量的位周期。这种相对于SAM1位置342的距离偏移量递增所计算的内插偏移量,以生成与Burst1210和Burst2214相对应的纠错样本。图5是例示根据本发明的一些实施例的用于内插可以使用的脉冲串信息的处理的定时图600。在定时图600中,沿示例性连续输出610示出了与时间增量t(0)、t(1)、t(2)、t(3)、t(4)、t(5)以及t(6)相对应的一系列样本。该时间增量是与对应于脉冲串信息的SAM1位置342相距的限定距离。内插处理包括将每一个样本向前调节由符号Δ所标识的内插偏移量620。这种处理获得针对在处理更早处理的前同步码(例如,前同步码204)之后剩余的任何相位误差的修正。应注意,所示出的内插处理是示例性的,并且根据本发明的不同实施例可以使用其它内插方法。
接下来,返回图3,将修正的脉冲串信息提供给执行脉冲串解调的脉冲串解调器电路360。这种脉冲串解调可以是本领域已知的任何脉冲串解调。例如,在将两个脉冲串字段用于伺服数据中的情况下,可以使用两脉冲串解调处理。作为另一示例,在将四个脉冲串字段用于伺服数据中的情况下,可以使用四脉冲串解调处理。脉冲串解调器电路360提供定位误差信号365,其可以被用于相对于导出磁场305的存储介质(未示出)适当地设置读/写端头组件310。
转至图6,流程图500示出了根据本发明的一个或多个实施例的用于处理改进伺服数据图案的方法。按照流程图500,接收一系列数字样本,并且不断地查询以确定该系列样本中是否包含预定周期性前同步码图案(框505)。在没有检测到周期性前同步码图案的情况下(框505),继续进行比较以检测前同步码图案的处理。否则,在检测到预定周期性前同步码的情况下(框505),执行查询以确定是否发现SAM图案的处理(框510)。前同步码检测可以利用本领域已知的任何前同步码检测处理来执行。而且,应注意到,在处理前同步码图案的同时,生成定时和增益反馈,其被用于控制对导出该系列样本的所接收信息的采样。一旦发现SAM(框510),就计算小数形式的SAM1位置(框515)。小数形式的SAM1位置可以根据下面公式来计算:
Figure BPA00001253851900121
在样本(x)对应于更可能对应于所检测SAM的实际位置的样本的情况下,样本(x-1)和样本(x+1)对应于样本(x)的任一侧的样本,而t(x)对应于样本(x)的采样时间。接着,存储所计算的小数形式的SAM1位置(框520)。
一旦处理了第一SAM(框510-520),就针对后续SAM查询所接收系列的样本(框525)。在某些情况下,后续SAM具有和第一SAM相同的图案。在其它情况下,后续SAM具有和第一SAM不同的图案。在发现后续SAM的情况下(框525),计算小数形式的SAM2位置(框530)。小数形式的SAM2位置可以利用以上关于框515描述的相同方法来计算。接着,根据下面的公式,从小数形式的SAM2位置减去小数形式的SAM1位置,并将差除以SAM1与SAM2之间的希望或已知距离(框535),以生成内插偏移量:
该已知距离在将伺服数据写入至存储介质的时候限定,并且是伺服数据图案中的SAM1206与SAM2212之间的希望数量的位周期。如上所述,在某些情况下,该已知距离尽可能多地增加,以增加上述公式的精度。增加已知距离通过将SAM2212远离SAM1206上游地移动来完成。在某些情况下,SAM2恰好设置在伺服数据中的最终脉冲串字段(例如,Burst2214)之前。因而,例如,在采用两个脉冲串字段的情况下,将SAM2212移动至伺服数据图案中的、第二脉冲串字段之前的位置。作为另一示例,在采用四个脉冲串字段的情况下,将SAM2212移动至伺服数据图案中的、第四脉冲串字段之前的位置。这种设置允许在不需要在用户数据216开始之前进一步延迟处理最终脉冲串字段(例如,Burst2214)的情况下,最大化SAM1与SAM2之间的距离。基于在此提供的公开,本领域普通技术人员将认识到可以用于最大化处理性能的SAM1206和SAM2212的其它设置。例如,在某些情况下,利用SAM2212之后的适当分隔符,SAM2212在最后的脉冲串字段(例如,Burst2214)之后移动,以允许在用户数据216开始之前有足够时间用于内插和处理来自最终脉冲串字段的脉冲串信息。
从希望接收脉冲串信息之前的某个时间开始,存储接收到的该系列样本(框560)。所存储样本从模拟数字转换器接收,该模拟数字转换器利用具有基于更早接收的前同步码所调节的相位和频率的采样时钟来对模拟输入信号进行采样。利用先前计算出的内插偏移量来检索和内插与在第二SAM之前接收到的一个或多个脉冲串字段相对应的所存储样本的一部分(框540)。这个处理获得针对在利用前同步码同步之后剩余的任何相位偏移量进行修正的脉冲串信息。
进一步处理所接收的样本,其中,确定是否接收到最后希望的脉冲串(框545)。在接收到最后希望的脉冲串的情况下(框545),将与最后的脉冲串相对应的该系列样本在接收的时候利用与用于内插更早缓冲的脉冲串信息相同的内插偏移量来内插。该内插处理获得完整的脉冲串信息集,该脉冲串信息集已经进行了修正,从而考虑了在利用前同步码同步之后剩余的任何相位偏移量。此时,将修正的脉冲串信息提供给脉冲串解调器电路,该脉冲串解调器电路利用本领域已知的任何解调方法来执行脉冲串解调。
总之,本发明提供了用于存取存储介质的新系统、装置、方法以及配置。虽然以上已经给出了对本发明的一个或多个实施例的详细描述,但在不改变本发明的精神的情况下,各种另选例、修改例以及等同物对本领域技术人员而言是显而易见的。例如,可以将本发明的一个或多个实施例应用于各种数据存储系统和数字通信系统,举例来说,如带记录系统、光盘驱动器、无线系统、以及数字用户线路系统。因此,上面的描述不应被视为对本发明的范围的限制,本发明的范围由所附权利要求书限定。

Claims (20)

1.一种用于有效地确定端头相对于存储介质的定位误差的系统,该系统包括:
存储介质,包括一系列数据,其中,所述系列数据包括第一限定标记符以及与所述第一限定标记符相距一定距离定位的第二限定标记符,并且其中,所述系列数据还包括定位位置数据;
第一检测器电路,可操作用于检测所述第一限定标记符并且确定所述第一限定标记符的位置;
第二检测器电路,可操作用于检测所述第二限定标记符并且确定所述第二限定标记符的位置;
误差计算电路,其中,所述误差计算电路可操作用于至少部分地基于所述第一限定标记符的位置和所述第二限定标记符的位置来计算内插偏移量;以及
内插电路,其中,所述内插电路可操作用于对所述定位位置数据进行内插并且提供内插定位位置数据。
2.根据权利要求1所述的系统,其中,所述系统还包括:
脉冲串解调电路,其中,所述脉冲串解调电路至少部分地基于所述内插定位位置数据来生成定位误差信号。
3.根据权利要求1所述的系统,其中,所述系列数据是包括前同步码图案的扇区数据,其中,所述第一限定标记符是第一扇区地址标记,其中,所述第二限定标记符是第二扇区地址标记,并且其中,所述系统还包括信号接收电路,所述信号接收电路包括:
模拟数字转换器,所述模拟数字转换器利用以某一频率和某一相位操作的采样时钟对模拟输入进行采样,以生成一系列样本;以及
前同步码检测器和时钟恢复电路,所述前同步码检测器和时钟恢复电路可操作用于检测所述扇区数据内的所述前同步码图案,并且基于所述前同步码图案来调节所述频率和所述相位中的至少一个,以生成经调节的采样时钟。
4.根据权利要求3所述的系统,其中,所述内插偏移量可操作用于至少部分地补偿所述经调节的采样时钟中的相位误差。
5.根据权利要求3所述的系统,其中,所述定位位置数据至少包括第一脉冲串图案和第二脉冲串图案,其中,所述第一扇区地址标记位于所述前同步码图案之后并位于所述第一脉冲串图案之前,并且其中,所述第二扇区地址标记位于所述第一脉冲串图案之后并位于所述第二脉冲串图案之前。
6.根据权利要求5所述的系统,其中,所述扇区数据包括Gray码,并且其中,所述Gray码位于所述第一扇区地址标记之后并位于所述第二扇区地址标记之前。
7.根据权利要求1所述的系统,其中,所述第一检测器电路和所述第二检测器电路相同。
8.根据权利要求1所述的系统,其中,所述第一检测器电路和所述第二检测器电路共用同一电路。
9.根据权利要求3所述的系统,其中,所述第一限定标记符的位置包括与基准位置相距的小数形式距离和整数形式距离的组合。
10.一种用于有效确定定位误差的方法,所述方法包括:
提供包括一系列数据的存储介质;其中,所述系列数据包括第一限定标记符和与所述第一限定标记符相距一定距离定位的第二限定标记符,并且其中,所述系列数据还包括定位位置数据;
接收所述系列数据;
检测所述第一限定标记符;
识别所述第一限定标记符的第一位置;
检测所述第二限定标记符;
识别所述第二限定标记符的第二位置;
至少部分地基于所述第一位置和所述第二位置来计算内插偏移量;
基于所述内插偏移量对所述定位位置数据进行内插,以生成内插定位位置数据;以及
利用所述内插定位位置数据来确定定位误差。
11.根据权利要求10所述的方法,其中,所述系列数据是包括前同步码图案的扇区数据,其中,所述第一限定标记符是第一扇区地址标记,其中,所述第二限定标记符是第二扇区地址标记,并且其中,接收所述系列数据包括:
接收包括所述扇区数据的模拟输入;
利用以某一频率和某一相位操作的采样时钟对所述模拟输入进行采样,以至少生成所述扇区数据的第一部分;
检测所述扇区数据内的所述前同步码图案;
基于所述前同步码图案调节所述频率和所述相位中的至少一个,以生成经调节的采样时钟;以及
利用所述经调节的采样时钟对所述模拟输入进行采样,以至少生成所述扇区数据的第二部分。
12.根据权利要求11所述的方法,其中,所述内插偏移量可操作用于至少部分地补偿所述经调节的采样时钟中的相位误差。
13.根据权利要求11所述的方法,其中,所述第一扇区地址标记和所述第二扇区地址标记相同。
14.根据权利要求11所述的方法,其中,所述定位位置数据至少包括第一脉冲串图案和第二脉冲串图案,其中,所述第一扇区地址标记位于所述前同步码图案之后并位于所述第一脉冲串图案之前,并且其中,所述第二扇区地址标记位于所述第一脉冲串图案之后并位于所述第二脉冲串图案之前。
15.根据权利要求14所述的方法,其中,所述扇区数据还包括Gray码,并且其中,所述Gray码位于所述第一扇区地址标记之后并位于所述第二扇区地址标记之前。
16.根据权利要求11所述的方法,其中,所述定位位置数据至少包括第一脉冲串图案、第二脉冲串图案以及第三脉冲串图案,其中,所述第一扇区地址标记位于所述前同步码图案之后并位于所述第一脉冲串图案之前,并且其中,所述第二扇区地址标记位于所述第二脉冲串图案之后并位于所述第三脉冲串图案之前。
17.根据权利要求11所述的方法,其中,所述扇区数据是第一扇区数据,其中,所述存储介质还包括第二扇区数据,所述第二扇区数据包括相同的前同步码图案、第一扇区地址标记和第二扇区地址标记。
18.根据权利要求11所述的方法,其中,识别所述第一扇区地址标记的第一位置包括执行第一小数形式位置的计算,并且其中,识别所述第二扇区地址标记的第二位置包括执行第二小数形式位置的计算。
19.根据权利要求11所述的方法,其中,计算所述内插偏移量包括从所述第二位置减去所述第一位置,并且将所述结果除以所述距离。
20.一种存储介质,其中,所述存储介质包括:
第一扇区数据集,其中,所述第一扇区数据集包括前同步码图案、第一扇区地址标记、第二扇区地址标记、第一脉冲串图案、以及第二脉冲串图案;
第二扇区数据集,其中,所述第二扇区数据集包括所述前同步码图案、所述第一扇区地址标记、所述第二扇区地址标记、所述第一脉冲串图案、以及所述第二脉冲串图案;
其中,所述第一脉冲串图案位于所述第二脉冲串图案之前,其中,所述第一扇区地址标记位于所述前同步码图案之后,并且其中,所述第二扇区地址标记位于所述第一脉冲串图案之后。
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