CN1783322A - 用于磁带驱动器的数据可靠性测试的装置和方法 - Google Patents

Abstract

对磁带驱动器的各通道分别进行用于磁带驱动器的数据可靠性测试，该磁带驱动器读写多轨磁带的轨迹。存储器存储表示分别写到多轨磁带的轨迹的数据的测试数据；多个读通道的每一个从磁带的独立的轨迹读由磁带头传感的数据；并且错误处理逻辑检测在来自多个读通道的每一个的数据以及表示写到相同的独立的轨迹的数据的存储器的存储的测试数据之间的差异。

Description

用于磁带驱动器的数据可靠性测试的装置和方法

技术领域

本发明涉及磁带驱动器，更具体地，涉及能够向多轨磁带写的磁带驱动器的数据可靠性测试。

背景技术

磁带驱动器提供一种在要保存的盒式磁带(magnetic tape cartridge)上存储数据的装置，并且随后读回，一般作为多组并行轨迹，其中数据在多组并行轨迹上记录为数据记录或其等效。盒式磁带可在磁带驱动器之间相互交换，使得数据可由一个磁带驱动器写而随后由不同磁带驱动器读回。因此，数据可靠性是磁带驱动器的重要方面。

磁带驱动器的数据可靠性测试一般包括独立的设备，其附属于磁带驱动器原型(prototype)、测试台(test-stand)或者板模型(plate model)。这样的测试系统有限数量地产生，需要定制的硬件并且需要定制的接口软件。

而且，这样的测试系统相对磁带驱动器的外部接口工作，并且提供要记录和读回的测试数据整体上作为完整的数据记录，覆盖一组的所有并行轨迹，如在多轨磁带驱动器的正常机能中。

发明内容

提供用于一个或多个磁带驱动器的数据可靠性测试的装置、记录通道、数据可靠性系统和磁带驱动器的数据可靠性测试方法。分别对磁带驱动器的各通道进行测试，用于读写多轨磁带的不同的轨迹。

在一个实施例中，存储器存储表示分别写到多轨磁带的轨迹的数据的测试数据；多个读通道的每一个从磁带的独立的轨迹读由磁带头传感的数据；并且错误处理逻辑检测在来自多个读通道的每一个的数据以及表示写到相同的独立的轨迹的数据的存储器的存储的测试数据之间的差异。

在进一步的实施例中，读通道从由磁带头传感的数据剥离格式信息。

在另一个实施例中，提供控制，以组织用于比较的数据来检测差异。在进一步的实施例中，控制可包括状态机。

在另一个实施例中，多个写通道的每个将数据提供给磁带头用于分别将数据写到多轨磁带的轨迹；存储器存储测试数据，该测试数据表示分别通过多个写通道写到磁带的轨迹的测试数据；多个读通道，其每个从磁带的独立的轨迹读由磁带头传感的数据；以及错误处理逻辑检测在来自多个读通道的每一个的数据以及表示写到相同的独立的轨迹的数据的存储器的存储的数据之间的差异。

在进一步的实施例中，写数据缓冲器安排用于将数据分别写到轨迹的测试数据。

在进一步的实施例中，控制器提供测试数据用于将测试数据写到独立的轨迹，并且提供测试数据用于通过存储器存储。

在进一步的实施例中，写通道还包括：写逻辑，其将格式信息加到测试数据。在另一个实施例中，读通道从由磁带头传感的数据剥离格式信息。

在一个实施例中，数据可靠性测试系统测试至少一个磁带驱动器，并且包括：错误控制系统和磁带驱动器的集成组件。所述集成组件包括：存储器，用于存储由错误控制系统提供的测试数据，所述测试数据表示分别写到多轨磁带的轨迹的数据；多个读通道，其每个用于从磁带的独立的轨迹读由磁带头传感的数据；以及错误处理逻辑，用于检测来自多个读通道的每一个的数据以及表示写到相同的独立的轨迹的数据的存储器的存储的测试数据之间的差异，并且提供关于检测的差异的错误信息用于错误控制系统。

为了更全面地理解本发明，应该参考下面结合附图的详细说明。

附图说明

图1是根据本发明的数据可靠性测试系统的一个实施例的框图；

图2是可实现本发明的实施例的磁带驱动器的一个实施例的框图；

图3是图2的磁带驱动器的写逻辑的框图；

图4是由图2的磁带驱动器记录格式化和读写数据分区的图示说明；

图5是图2的磁带驱动器的集成的读可靠性测试装置的框图；

图6是图5的读可靠性测试装置的控制状态机的图示说明；

图7是用于控制图5的读可靠性测试装置的数据比较的记录计数器的框图；以及

图8是说明根据本发明的方法的一个实施例的流程图。

具体实施方式

本发明在参考附图的以下描述中以各优选实施例进行说明，附图中相同的数字表示相同或者相似的组件。虽然本发明按照实现本发明的目的的最佳方式进行说明，但本领域技术人员将会认识到，考虑到这些教导，可实现多种变化而不偏离本发明的精神或者范围。

参照图1，数据可靠性测试系统的一个实施例包括磁带驱动器10，并且可选地包括错误控制系统12，其可包括处理器或其它组件，配置于开始对至少一个磁带驱动器的数据可靠性测试，并且错误控制系统12还可配置于分析提供的错误信息。分别对读写多轨磁带的轨迹的磁带驱动器的各通道进行磁带驱动器的数据可靠性测试。开始测试还可包括对磁带驱动器10提供测试数据。错误控制系统12可包括任何适合的处理器或处理器组。

图2说明图1的磁带驱动器10的一个实施例，其可实现本发明的各方面。磁带驱动器相对盒式磁带11的磁带14提供一种用于读写信息的方法。

盒式磁带提供一种装置，用于在要保存的磁带上存储数据并且在以后读取。进而，盒式磁带可在磁带驱动器间相互交换，使得在一个磁带驱器上写的磁带将由另一个磁带驱动器读取。

如本领域技术人员所理解的，盒式磁带11包括绕在一或二盘15、16上的一长度的磁带14。

说明单盘盒式磁带11，其示例为遵守Linear Tape Open(LTO，线性磁带开)格式的单盘盒式磁带。磁带驱动器10的示例为基于LTO技术的IBM 3580Ultrium磁带驱动器。单盘磁带驱动器和关联的盒式磁带的另外的示例为IBM3592 TotalStorage Enterprise(全存储企业级)磁带驱动器和关联的盒式磁带。双盘盒式磁带的示例为IBM 3570盒式磁带和关联的驱动器。

还如本领域技术人员所理解的，磁带驱动器10包括记录系统的一个或更多的控制器18，用于根据从在接口21接收的错误控制系统12接收的命令来操作磁带驱动器。控制器一般包括逻辑和/或带有存储器19的一个或更多的处理器，该存储器19用于存储信息以及用于操作控制器的程序信息。通过向例如软盘或光盘这样的控制器18输入，或通过从盒式磁带读，或通过其它任何适合的装置，程序信息可以经由接口21提供到存储器。磁带驱动器10可包括单独的单元或包括一部分磁带库或其它的子系统。磁带驱动器10可直接通过库或通过网络耦合错误控制系统12，并且在接口21使用小计算机系统接口(SCSI)、光纤通道接口和串行MP(微处理器)端口等。

盒式磁带11可插入磁带驱动器10，并且通过磁带驱动器装入，使得在通过旋转盘15、16的一个或更多的电机25纵向移动磁带时，记录系统的一个或更多的读写磁头23以有关磁带14的信号的形式读和/或写信息。磁带一般包括多个并行轨迹，一般安排为多组轨迹。在一些格式中，例如以上LTO格式，如本领域技术人员已知的，轨迹以独立的卷带的卷曲来回方式安排。还如本领域技术人员已知的，记录系统可包括卷带(wrap)控制系统27，用于电子地切换到另一组读和/或写磁头，并且/或寻找和横向移动磁带的读写磁头23，用于在希望的卷带(wrap)或多个卷带定位磁头，并且在一些实施例中，用于跟踪跟随希望的卷带或多个卷带。卷带控制系统还可通过电机驱动器28控制电机25的操作，两个都响应控制器18的指令。卷带可视为一组轨迹。

如本领域技术人员已知的，使用缓冲器30和记录通道32，控制器18还提供数据流和用于要从磁带读和要写到磁带的数据的格式化。

驱动系统至少包括电机25和盘15、16，并且相对读写磁头23移动磁带14，使得写磁头可在磁带上写信号，并且读磁头可在磁带上传感磁信号，如记录通道32安排的。

如本领域技术人员所理解的，测试数据可包括能在磁带14上写的任何适合的格式，磁带14由磁带头传感并且由记录通道32检测。

参照图1，在一个实施例中，在错误控制系统对至少一个磁带驱动器如磁带驱动器10开始数据可靠性测试时，测试数据通过错误控制系统12来提供。例如，在一个实施例中，例如在连接到错误控制系统的磁带驱动器制造或测试设施中，可提供一组磁带驱动器。错误控制系统可向所有连接的磁带驱动器提供相同的测试数据。或者，远程或本地测试可由单磁带驱动器10的错误控制系统12开始，或对所有或一些安装的磁带驱动器如磁带库。或者，可例如通过错误控制系统将测试数据预载到磁带驱动器。

在图1的实施例中，控制器18将测试数据导向写数据缓冲器40和读比较逻辑42。写数据缓冲器40和读比较逻辑42可包括专门逻辑和存储安排，或可包括对磁带驱动器预先存在的组件的专门使用。写数据缓冲器40和读比较逻辑42可包括用于存储和处理数据的任何适合的安排。

在一个实施例中，参照图1和3，测试数据包括由错误控制系统12提供的模式负载，并且对每个要记录的轨迹组是独立的，如由写逻辑46和写磁头47写的。写磁头47包括图2的读写磁头的写磁头。还参照图1和3，在图3的实施例中，数据49从控制器18向随机存取缓冲器40提供，并且选通输出到写电子电路50，用于独立写到磁带14的轨迹。如上述，磁带14的轨迹一般以组安排。数据可靠性测试可对单个轨迹组进行，或者，可替代地，更多或所有的轨迹组可被写、读回和测试。

仍然参考图1和3，该模式对于每个轨迹可以是唯一的，或者，可替代地，相同的模式可用于一些或所有的轨迹。例如，组中的轨迹对可具有由写磁头47记录的相同的模式。

在一个替代实施例中，可提供部分模式，并且部分模式被重复地写到磁带的轨迹。

在一个实施例中，独立的数据可以同时地向每个写磁头47提供。或者，独立的数据可顺序向每个写磁头47提供。

因此，测试数据分别写到多轨磁带14的轨迹，并且测试数据存储在读比较逻辑42的存储器中，存储的数据表示分别写到磁带的轨迹中的测试数据。

参照图1、3和4，写逻辑46可配置于将格式信息加到测试数据。以上在图4中说明符合LTO格式的格式信息的一个示例，包括数据区分信号(DSS)模式53、可变频率振荡器(VFO)模式54、和同步(Sync)模式55。模式分开由数据57表示的数据记录。作为一个示例，格式信息通过错误控制系统12经由控制器18提供到要写到磁带的图3的写缓冲器40。或者，格式信息通过控制器18存储，并且通过控制器18增加为数据49。格式信息伴随测试数据57，用于每个独立轨迹。

参照图1和5，读通道逻辑60包括多个读通道，其每个配置于从磁带14的独立的轨迹读由磁带读磁头61传感的数据。读磁头61包括图2的读写磁头23的读磁头。将结果数据向包括错误处理逻辑的读比较逻辑42提供，错误处理逻辑配置于检测在来自于多个读通道的每个的数据以及表示写到相同的独立的轨迹的数据的存储器的存储的测试数据之间的差异。

参照图1和5，在一个实施例中，将来自读磁头的数据提供到读通道逻辑60的读检测通道70。读通道逻辑还可包括DSS模式检测器73和VFO模式检测器75。在图5的示例中，数据80和时钟信息81通过读检测通道70得到，并且将其提供到图1和5的读比较逻辑42。因此，如果格式信息已经与数据一起写到由读检测通道70检测的单独的轨迹，则格式信息通过检测器73和75检测。

参照图1和5，去格式化器90从数据80剥离由DSS模式检测器73和VFO模式检测器75检测的格式信息。

控制100组织用于比较的数据，以允许检测在来自多个读通道的每一个的数据以及表示写到相同的独立的轨迹的存储器的存储的测试数据之间的差异。

参照图5和6，在一个实施例中，控制100可包括状态机102，其检测图4的同步模式55，该模式指示数据记录开始，表示为数据记录101。数据记录101可与正常的数据记录无关，并且表示用于单独的轨迹的测试数据，而正常的数据记录可表示为来自一组轨迹的结合的数据。

参照图5和6，状态机的第一状态“0”是空闲状态105，循环检测同步模式106。在检测同步模式时，状态机移向状态“1”，以在错误处理逻辑110开始处理数据109。控制将从磁带的单独的轨迹读取的通道数据111传递到错误处理逻辑，并且从存储器112寻址对应的存储的测试数据。存储器112配置于存储从图1的控制器18接收的测试数据。存储器112的存储的测试数据表示写到相同的独立的轨迹的数据。如上述，测试数据可包括用于每个轨迹的唯一模式，或者，可替代地，相同的模式可用于一些或所有的轨迹。

控制100提供从独立的轨迹读的数据111，并且对错误处理逻辑110提供对应的存储的测试数据115用于比较。

仍然参照图5和6，状态机位于状态“2”，以处理数据116。在已经处理所有记录时117，状态机进入状态“3”118，并且状态机循环回到状态“0”以检测下一次同步105和106。

参照图5、6和7，控制100的状态机102驱动记录和缓冲地址计数器120，以使存储器112与读数据输入同步，并且识别要比较的总数据量。要比较的记录数可例如通过图1的处理器12经由控制器18来编程并且在输入122提供(记录号-NORECS)。

仍然参照图5、6和7，初始化测试在输入124和输入126发信号通知(数据使能-DATAEN)，指示从去格式器90提供有效数据字。在状态机102进入状态“1”以开始在错误处理逻辑110处理数据时108，“1”的状态信号还运行组件127，以将存储器112的地址128增加到下一次记录，来使存储器112与读的数据输入同步。在状态机102进入状态“3”时，指示记录结束，组件130增加记录计数133。记录计数反馈给组件135，并且比较要从输入122比较的记录号的识别，并且在记录计数等于在输入122的值时，组件135激活线136，以在这时停止比较从独立的轨迹读的数据111和错误处理逻辑110的对应的存储的测试数据115。

控制100可可选地采用其它形式，如直接逻辑或固件，并且不要求所有的功能。作为一个示例，从独立的轨迹读的数据111和错误处理逻辑110的对应的存储的测试数据115的比较可在耗尽存储器112的比较数据时结束。

参照图1和5，错误处理逻辑110配置于检测在来自读通道的数据和存储器112的存储的测试数据之间的差异，存储的测试数据表示如由对应的读通道读的相同的独立的轨迹的数据。

或者，读比较逻辑42可配置于处理多个并行读通道。在这种情形，错误处理逻辑110检测在来自多个读通道的每一个的数据和表示写到相同的独立的轨迹的数据的存储器112的存储的测试数据之间的差异。

作为检测差异的一部分，错误处理逻辑110可对每个轨迹检测的差异计数。进而，可将差异数与每个轨迹的记录数比较以提供错误率指示。本领域技术人员可推测关于检测的差异的附加测量。对应提供的检测的差异，将检测的差异与轨迹或每个轨迹的识别一起提供。

将由错误处理逻辑110提供的结果提供给错误控制系统12用于进一步分析。

图8描述根据本发明的方法的实施例，例如，通过外部处理器或内部控制器在步骤200开始。在步骤202，测试数据在初始化时由外部处理器提供，或者已经预载。测试数据包括模式负载，并且对要记录的每个轨迹是唯一的。或者，相同的模式可用于一些或所有的轨迹。例如，组中的轨迹对可具有由写磁头记录的相同的模式。在步骤205中，测试数据例如在缓冲器中存储。在步骤207中，如上述，测试数据分别写到多轨磁带的一组轨迹的每个轨迹。该数据还可在被写时格式化。

在步骤220中，读磁头传感来自轨迹的信息，并且在步骤223中，从磁带的独立的轨迹读传感的数据。任何格式化还可在步骤223中从数据剥离。

步骤240检测从步骤223的磁带的独立的轨迹读的数据和步骤205的存储的测试数据之间的差异，其中存储的数据表示对应的如在步骤223中读的独立的轨迹的数据。

在步骤242中，提供错误信息，表示在步骤240中检测的差异的结果。

本领域技术人员会理解，相对这里说明的组件，可进行各种变化。进而，本领域技术人员将理解，可使用与这里说明的不同的特定组件安排。并且，本领域技术人员将理解，相对这里说明的方法的步骤，可进行各种变化，而且各步骤可结合或单个步骤可分成多个步骤。

虽然，本发明的优选实施例已经详细说明，但是应当清楚，本发明实施例的各种修改和改进可由本领域技术人员产生，而不脱离如在权利要求书中提出的本发明的范围。

Claims (40)

1.一种配置用于对磁带驱动器进行数据可靠性测试的装置，包括：

存储器，其配置于存储表示分别写到多轨磁带的轨迹的数据的测试数据；

多个读通道，其每个配置于从磁带的独立的轨迹读由磁带头传感的数据；以及

错误处理逻辑，其配置于检测在来自多个所述读通道的每一个的数据以及表示写到相同的独立的轨迹的数据的所述存储器的存储的测试数据之间的差异。

2.根据权利要求1所述的装置，其中所述读通道配置于从由所述磁带头传感的所述数据剥离格式信息。

3.根据权利要求1所述的装置，还包括配置于组织用于检测所述差异的数据的控制。

4.根据权利要求3所述的装置，其中所述控制包括状态机。

5.根据权利要求1所述的装置，还包括：

多个写通道，其每个配置于将数据提供给磁带头用于将数据分别写到多轨磁带的轨迹；以及

其中所述存储器配置于存储测试数据，所述测试数据表示分别通过所述多个写通道写到所述的磁带的轨迹的测试数据。

6.根据权利要求5所述的装置，还包括：

写数据缓冲器，其配置于安排所述测试数据用于将所述数据分别写到所述轨迹。

7.根据权利要求5所述的装置，还包括：

控制器，其配置于提供测试数据用于写所述测试数据到所述独立的轨迹，并且配置于提供所述测试数据用于通过所述存储器存储。

8.根据权利要求5所述装置，其中所述写通道还包括：

写逻辑，其配置于将格式信息加到所述测试数据。

9.根据权利要求8所述的装置，其中所述读通道配置于从通过所述磁带头传感的所述数据剥离格式信息。

10.一种用于磁带驱动器的记录通道，包括：

多个写通道，其每个配置于将数据提供给磁带头用于将数据分别写到多轨磁带的轨迹；

存储器，其配置于存储测试数据，该测试数据表示通过所述多个写通道分别写到磁带的轨迹的测试数据；

多个读通道，其每个配置于从磁带的独立的轨迹读由磁带头传感的数据；以及

错误处理逻辑，其配置于检测在来自多个所述读通道的每一个的数据以及表示写到相同的独立的轨迹的数据的所述存储器的存储的数据之间的差异。

11.根据权利要求10所述的记录通道，还包括：

写数据缓冲器，其配置于安排所述测试数据用于分别将所述数据写到所述轨迹。

12.根据权利要求10所述的记录通道，还包括：

控制器，其配置于提供测试数据用于将所述测试数据写到所述独立的轨迹，并且配置于提供所述测试数据用于通过所述存储器存储。

13.根据权利要求10所述的记录通道，其中所述写通道还包括：

写逻辑，其配置于将格式信息加到所述测试数据。

14.根据权利要求13所述的记录通道，其中所述读通道配置于从通过所述磁带头传感的所述数据剥离格式信息。

15.根据权利要求10所述的记录通道，还包括控制，其配置于组织用于检测所述差异的数据。

16.根据权利要求15所述的记录通道，其中所述控制包括状态机。

17.一种磁带驱动器，包括：

至少一个磁带头，其配置于将数据写到多轨磁带的轨迹，并且配置其从多轨磁带的轨迹传感数据；

驱动系统，其配置于相对所述至少一个磁带头移动磁带，使得所述至少一个磁带头可分别将数据写到所述磁带的轨迹，并且可从所述磁带的轨迹传感数据；以及

测试记录通道包括：

多个写通道，其每个配置于将数据提供给所述磁带头用于分别将数据

写到多轨磁带的轨迹；

存储器，其配置于存储测试数据，所述测试数据表示通过所述多个写通道分别写到磁带的轨迹的测试数据；

多个读通道，其每个配置于从磁带的独立的轨迹读由所述磁带头传感的数据；以及

错误处理逻辑，其配置于检测在来自多个所述读通道的每一个的数据以及表示写到相同的独立的轨迹的数据的所述存储器的存储的数据之间的差异。

18.根据权利要求17所述的磁带驱动器，其中所述测试记录通道还包括：

写数据缓冲器，其配置于安排用于将所述数据分别写到所述轨迹的所述测试数据。

19.根据权利要求17所述的磁带驱动器，还包括：

控制器，其配置于提供用于将所述测试数据写到所述独立的轨迹的测试数据，并且配置其提供所述测试数据用于通过所述存储器存储。

20.根据权利要求17所述的磁带驱动器，其中所述写通道还包括：

写逻辑，其配置于将格式信息加到所述测试数据。

21.根据权利要求20所述的磁带驱动器，其中所述读通道配置于从通过所述磁带头传感的所述数据剥离格式信息。

22.根据权利要求17所述的磁带驱动器，还包括控制，其配置于组织用于检测所述差异的数据。

23.根据权利要求22所述的磁带驱动器，其中所述控制包括状态机。

24.一种用于测试至少一个磁带驱动器的数据可靠性测试系统，包括：

错误控制系统，其配置于开始测试至少一个磁带驱动器；以及磁带驱动器的集成组件，其包括：

存储器，其配置于存储由所述错误控制系统提供的测试数据，所述测试数据表示分别写到多轨磁带的轨迹的数据；

多个读通道，其每个配置于从磁带的轨迹读由磁带头传感的数据；以及

错误处理逻辑，其配置于检测在来自多个所述读通道的每一个的数据以及表示写到相同的独立的轨迹的数据的所述存储器的存储的测试数据之间的差异，并且配置于提供关于所述检测的差异的错误信息用于所述错误控制系统。

25.根据权利要求24所述的数据可靠性测试系统，其中磁带驱动器的所述集成组件还包括：

多个写通道，其每个配置于将数据提供给磁带头用于将数据写到多轨磁带的轨迹；以及

其中所述存储器配置于存储测试数据，所述测试数据表示通过所述多个写通道分别写到所述的磁带的轨迹的测试数据。

26.根据权利要求25所述的数据可靠性测试系统，其中磁带驱动器的所述集成组件还包括：

写数据缓冲器，其配置于安排所述测试数据用于将所述数据分别写到所述轨迹。

27.根据权利要求25所述的数据可靠性测试系统，其中磁带驱动器的所述集成组件还包括：

控制器，其配置于提供测试数据用于将所述测试数据写到所述独立的轨迹，并且配置其提供所述测试数据用于通过所述存储器存储。

28.根据权利要求25所述的数据可靠性测试系统，其中所述写通道还包括：

写逻辑，其配置于将格式信息加到所述测试数据。

29.根据权利要求28所述的数据可靠性测试系统，其中所述读通道配置于从由所述磁带头传感的所述数据剥离格式信息。

30.根据权利要求24所述的数据可靠性测试系统，还包括控制，其配置于组织用于检测所述差异的数据。

31.根据权利要求30所述的数据可靠性测试系统，其中所述控制包括状态机。

32.根据权利要求24所述的数据可靠性测试系统，其中所述错误控制系统还配置于分析所述被提供的错误信息。

33.一种用于测试磁带驱动器的数据可靠性的方法，包括以下步骤：

存储表示分别写到多轨磁带的轨迹的数据的数据的测试数据；

读磁带的多个轨迹的每一个的数据，所述轨迹已分别写了测试数据；以及

检测在所述读步骤中读的数据和所述存储步骤的测试数据之间的差异，所述测试数据表示对应在所述读步骤中读的所述数据的相同的独立的轨迹的数据。

34.根据权利要求33所述的方法，还包括以下步骤：

从在所述读数据步骤中读的所述数据剥离格式信息。

35.根据权利要求33所述的方法，还包括以下步骤：

分别将数据写到多轨磁带的轨迹；以及

其中所述存储步骤包括存储数据，该数据表示在所述分别写步骤分别写到所述的磁带轨迹的测试数据。

36.根据权利要求35所述的方法，还包括以下步骤：

将格式信息加到所述分别写步骤的所述数据。

37.根据权利要求36所述的方法，还包括以下步骤：

从在所述读数据步骤中读的所述数据剥离格式信息。

38.根据权利要求33所述的方法，还包括以下步骤：

提供关于所述检测的差异的错误信息。

39.根据权利要求38所述的方法，还包括以下步骤：

分析在所述提供步骤中提供的所述错误信息。

40.根据权利要求33所述的方法，其中所述存储步骤还包括提供所述测试数据用于所述存储步骤的开始步骤。

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